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tzhnet

木虫 (正式写手)

[求助] 电滞回线测试

电滞回线测试的时候,总是有一个小缺口,如图所示
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pcsmine

木虫 (著名写手)

你想说明什么问题呢?
2楼2011-06-08 22:11:46
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feifeiasen

禁虫 (正式写手)


zhaohaixing(金币+1): 鼓励新虫多做交流,可以说的更清楚些~~ 2011-06-09 09:03:42
本帖内容被屏蔽

3楼2011-06-08 22:17:58
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03301223

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

tzhnet(金币+3): 很好,但是,这个电压不同,是电极不同造成的,还是其它原因,如:内部极化 2011-06-09 11:03:58
没有问题的,这是因为正向与反向电压不完全相同造成的
4楼2011-06-09 09:23:11
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tan-tt

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖


zhaohaixing(金币+1): 谢谢交流~ 2011-06-10 08:55:45
tzhnet(金币+1): 2011-06-14 09:29:03
怀疑是由于电导的时间延时效应引起的,能否将电场施加方向改变,比如从0-->+10-->-10V;改为0-->-10-->+10V,或者将测试的两电极互换,再观察这个缺口位置。铁电测试中的电滞回线会经常受电流的延时效应影响,在测高阻半导体I-V时,经常会观察到-->-10-->+10V-->-10V,这样的double I-V曲线不重合,这样是很容易测出电滞回线的,但是这不是铁电效应。
5楼2011-06-09 11:29:52
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diwunju

铁杆木虫 (正式写手)

★ ★
zhaohaixing(金币+1): 谢谢参与~ 2011-06-10 08:55:54
shecf(金币+1): 代发 2011-06-20 08:35:58
这个缺口就是极化的弛豫,因为你设定的测量波形里有一个预极化的脉冲,这个脉冲结束之后真正的测量脉冲开始之前有一段时间,Radiant的机器默认是1秒,就在这段时间里极化弛豫了。这个没什么,做铁电的人都知道。
6楼2011-06-09 12:36:47
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紫荆空间

银虫 (著名写手)

【答案】应助回帖


zhaohaixing(金币+1): 谢谢参与~ 2011-06-10 08:56:23
tzhnet(金币+1): 2011-06-10 10:11:16
tzhnet(金币+1): 2011-06-14 09:28:23
tzhnet(金币+1): 2011-06-15 15:46:12
很常见,有可能是仪器的原因,也可能是漏电
7楼2011-06-09 19:35:25
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guody

铁杆木虫 (正式写手)

★ ★ ★
zhaohaixing(金币+1): 鼓励回答~ 2011-06-10 08:56:09
shecf(金币+2): 代发 2011-06-20 08:35:35
引用回帖:
Originally posted by diwunju at 2011-06-09 12:36:47:
这个缺口就是极化的弛豫,因为你设定的测量波形里有一个预极化的脉冲,这个脉冲结束之后真正的测量脉冲开始之前有一段时间,Radiant的机器默认是1秒,就在这段时间里极化弛豫了。这个没什么,做铁电的人都知道。

这个是正解
如果关注其存储性能的话,这就是它的保持特性,在一个脉冲后,撤去电压,其剩余极化会稍稍降低,所以就存在这个缺口

Radiant的都有缺口
TF的没有,似乎是通过一定模拟或者什么手段避免了这缺口出现

当然如果缺口太大,说明膜的保持性比较差

影响保持特性的因素很多:薄膜本身质量非常关键
求木之长者,必固其根本;欲流之远者,必浚其泉源;思国之安者,必积其德义。
8楼2011-06-09 20:19:01
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wlwlh1065

至尊木虫 (著名写手)

引用回帖:
Originally posted by guody at 2011-06-09 20:19:01:
这个是正解
如果关注其存储性能的话,这就是它的保持特性,在一个脉冲后,撤去电压,其剩余极化会稍稍降低,所以就存在这个缺口

Radiant的都有缺口
TF的没有,似乎是通过一定模拟或者什么手段避免了这缺口 ...

学习了
9楼2011-06-25 00:05:41
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