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【交流】能量色散X荧光光谱仪，三维偏振X荧光光谱仪，波长色散X荧光光谱仪 已有1人参与
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能量色散X射线荧光 能量色散X射线荧光 (EDXRF) 谱仪利用了探测器信号的脉冲高度正比于X射线光子的能量，而能量与波长相关的原理。因此光路比WDXRF 谱仪简单，因为没有晶体或测角仪，来自样品的荧光光子直接到达探测器。 X光管的功率比WDXRF的功率低。样品被光管激发，通过计数不同能量水平的脉冲来定性元素和定量其含量。通常使用多道分析器显示和提供数据。每一个通道都同时计数某一能量的光子数。 EDXRF的分辨率主要依据所使用的探测器。在高能量水平，分辨率比WDXRF高。 三维偏振能量色散X射线荧光 三维偏振XRF （能量色散X射线荧光）因使用了极化靶使其与传统的能量色散XRF不同。 Epsilon 5 Epsilon 5是极化EDXRF谱仪，其光路核心是3维或称笛卡儿几何光路所定义的3维取向。来自光管的初级光束(黄色)激发到第一个轴向的极化靶.经过90散射，X向第二轴向向前进（蓝色）到达样品。样品产生的光品被探测器接收，探测器在第三轴向位置（粉色）。 降低背景 通过极化该几何光路消除了X射线光管的光谱，因此极大降低了光谱背景，背景比传统的2维光路的背景低了一个数量级，获得更低的检出限。 二次靶 极化靶提供了进一步的优点，尽管一些靶材料能散射自X光管到达样品的辐射，而另一些材料的荧光产额高，几乎是能单色激发样品。通过使用不同材料的靶材，有可能优化激发源，尤其是针对感兴趣的分析元素。 波长色散X射线荧光 波长色散X射线荧光 (WDXRF) X射线荧光光谱是根据Moseley定律，任何特征辐射(例如 K, L, M等)的波长与元素原子序数的平方成反比。这些波长已经可以从资料里查到。通过测量特征X射线辐射的波长，可以推断出来自于哪一个元素。 在WDXRF谱仪，来自样品表面的多色光束到达晶体后，根据Bragg定律,分光晶体将其转换成单色光束。根据晶体参数和衍射角计算测量谱线的波长。因此有必要选择适当的晶体来覆盖所要分析的波长。 同时式WDXRF谱仪，对应某元素在固定的角度放置有一个或多个探测器，因此同时测量不同的元素。 |
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2楼2011-03-27 08:25:55
