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ylkitty

金虫 (正式写手)


[交流] 【求助】请问a-Si:H薄膜中H的原子百分比如何测量?

H含量在a-Si:H薄膜中有重要作用,其含量不能太高也不能太小,10 at %貌似是最佳的,怎样测量它的原子百分比呢?
谢谢!
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ylkitty

金虫 (正式写手)


引用回帖:
Originally posted by ylkitty at 2011-03-10 08:57:54:
我们现在用的CVD配方,跟Street书上一致,还参考了师兄以前在国外的配方(同样型号的CVD设备),所以膜的质量应该可以从红外光谱中反映出来。
厚度我们还没有测量过,今天打算长3片后,测量红外和台阶仪。从文 ...

你说的是:缺陷会导致光学常数改变吗?为什么?非晶硅中的缺陷主要是由于硅原子的悬挂键导致的吧?
23楼2011-03-12 21:55:47
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styrenes

铁杆木虫 (著名写手)


★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by ylkitty at 2011-03-03 10:02:35:
H含量在a-Si:H薄膜中有重要作用,其含量不能太高也不能太小,10 at %貌似是最佳的,怎样测量它的原子百分比呢?
谢谢!

a-Si:H薄膜 是什么东西
2楼2011-03-03 13:34:29
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ylkitty

金虫 (正式写手)


引用回帖:
Originally posted by styrenes at 2011-03-03 13:34:29:
a-Si:H薄膜 是什么东西

就是氢化非晶硅(Hydrogenated Amorphous Silicon)。
3楼2011-03-03 13:46:55
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styrenes

铁杆木虫 (著名写手)


★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by ylkitty at 2011-03-03 13:46:55:
就是氢化非晶硅(Hydrogenated Amorphous Silicon)。

无机物应该也能做 元素分析。
4楼2011-03-03 13:56:30
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