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ylkitty

金虫 (正式写手)


[交流] 【求助】请问a-Si:H薄膜中H的原子百分比如何测量?

H含量在a-Si:H薄膜中有重要作用,其含量不能太高也不能太小,10 at %貌似是最佳的,怎样测量它的原子百分比呢?
谢谢!
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ylkitty

金虫 (正式写手)


GrasaVampiro: cord是专家,我说的仅供参考 2011-03-05 15:50:43
引用回帖:
Originally posted by ylkitty at 2011-03-03 18:24:00:
从EDX能谱图可以判断Si元素是存在的,但能不能推算出Si的原子百分比?要是能测出Si的含量,剩下的应该就是H的含量了(在这里打算采用pure SiH4进行沉积)。

不能保证CVD腔内的Si-H比例。我的意思是如果能够测量非晶硅薄膜中的Si含量,可以近似推出H的比例。
但这一想法貌似不可以,因为H的含量太小,而且EDX测试Si的含量不一定十分精确,所以很难推算出H含量。
大家说的测量红外光谱是可行的,采用这个方法可以知道SiH,SiH2,SiH3等radicals的含量,从而得到Si-H的比例。
15楼2011-03-04 14:02:38
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styrenes

铁杆木虫 (著名写手)


★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by ylkitty at 2011-03-03 10:02:35:
H含量在a-Si:H薄膜中有重要作用,其含量不能太高也不能太小,10 at %貌似是最佳的,怎样测量它的原子百分比呢?
谢谢!

a-Si:H薄膜 是什么东西
2楼2011-03-03 13:34:29
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ylkitty

金虫 (正式写手)


引用回帖:
Originally posted by styrenes at 2011-03-03 13:34:29:
a-Si:H薄膜 是什么东西

就是氢化非晶硅(Hydrogenated Amorphous Silicon)。
3楼2011-03-03 13:46:55
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styrenes

铁杆木虫 (著名写手)


★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by ylkitty at 2011-03-03 13:46:55:
就是氢化非晶硅(Hydrogenated Amorphous Silicon)。

无机物应该也能做 元素分析。
4楼2011-03-03 13:56:30
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