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ylkitty

金虫 (正式写手)


[交流] 【求助】请问a-Si:H薄膜中H的原子百分比如何测量?

H含量在a-Si:H薄膜中有重要作用,其含量不能太高也不能太小,10 at %貌似是最佳的,怎样测量它的原子百分比呢?
谢谢!
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cord

铁杆木虫 (著名写手)


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ylkitty(金币+5): 非常感谢!向您学习! 2011-03-04 08:26:47
GrasaVampiro(金币+50): 最近回了不少帖子,一次性给你加分 2011-03-05 15:48:21
氢原子含量很多紧密测试设备测试不了,在于氢原子是1价原子而且质量太轻,测试设备达不到紧密测试要求,比如SIMS,XPS等等。
对于非晶硅薄膜中的氢含量测量,通用方法是用红外谱测试。在非晶硅薄膜中氢个硅原子结合有多种方式,通过计算红外谱中的特定峰,可以计算出氢含量的大概数值。
请参考street的非晶硅书,里面有描述计算方式。
用纯硅烷通过PECVD方法制备非晶硅薄膜,硅烷分解形成非晶硅薄膜,其中也是含有氢原子的,含量的高低取决与制备条件。

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13楼2011-03-04 01:34:18
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styrenes

铁杆木虫 (著名写手)


★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by ylkitty at 2011-03-03 10:02:35:
H含量在a-Si:H薄膜中有重要作用,其含量不能太高也不能太小,10 at %貌似是最佳的,怎样测量它的原子百分比呢?
谢谢!

a-Si:H薄膜 是什么东西
2楼2011-03-03 13:34:29
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ylkitty

金虫 (正式写手)


引用回帖:
Originally posted by styrenes at 2011-03-03 13:34:29:
a-Si:H薄膜 是什么东西

就是氢化非晶硅(Hydrogenated Amorphous Silicon)。
3楼2011-03-03 13:46:55
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styrenes

铁杆木虫 (著名写手)


★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by ylkitty at 2011-03-03 13:46:55:
就是氢化非晶硅(Hydrogenated Amorphous Silicon)。

无机物应该也能做 元素分析。
4楼2011-03-03 13:56:30
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