| 查看: 493 | 回复: 0 | ||
[资源]
【素材】俄歇电子能谱分析
|
|
俄歇电子能谱仪（AES）常用于样品表面微区成分分析、样品纵剖面成分及元素结合状态分析。在高能电子束与固体样品相互作用后，产生俄歇电子信息。俄歇电子的产生是由原子内壳层电子因电离激发留下一个空位，引起较外层电子向这一能级跃迁使原子释放能量，该能量使外层电子进一步电离，发射一个与原子序数相关的俄歇电子，检测俄歇电子的能量和强度可以获得表面层化学成分的定性和定量信息。俄歇电子能谱仪探测的深度仅1nm，只有距离表层试样以下0.1-1.0nm深度产生的俄歇电子仍然能保证其特征能量而不会造成能量损失，俄歇电子能谱仪只能反映试样表面组成的信息。 https://d.namipan.com/d/6dfb30cc ... c178d26f145002c0600 |
回复此楼» 猜你喜欢
窗边初夏的小雨
已经有6人回复
-
2026年申博-电池方向
已经有11人回复
-
26年申博自荐-计算机视觉
已经有4人回复
-
导师各种操作恶心咋办
已经有8人回复
-
2026博士申请求助
已经有5人回复
-
研究生做的很差，你们会让毕业吗？
已经有11人回复
-
求碳排放博导；方向是LCA、生命周期可持续发展以及碳排放
已经有7人回复
-
2026博士或科研助理转27年博士
已经有7人回复
-
国自科送审了吗
已经有11人回复
-
博士招生
已经有5人回复