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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【请教】ＸＰＳ测试中Ｃ峰的问题
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blackmail

木虫 (正式写手)

[交流] 【请教】ＸＰＳ测试中Ｃ峰的问题 已有10人参与

我用共沉淀法合成的纯Ｆｅ３Ｏ４（没有加入任何表面活性剂）纳米粉拿去做ＸＰＳ，给我的结果里Ｃ的含量23.83 At.%, N的含量0.76 At.%, O的含量52.93 At.%, Fe的含量22.48 At.%, N的含量我可以理解为误差或气氛中的杂质气体，但为什么C的含量有这么高，我的样品里面应该没有碳啊！请高手指教。
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1楼 2010-06-08 22:18:06
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elionix

blackmail(金币+1): 2010-06-09 09:52:01
从样品表面刻20nm以后，在测XPS。
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5楼2010-06-09 08:35:08
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xiejf

专家顾问 (文学泰斗)

麦麦爸爸爱小牛
blackmail(金币+1): 2010-06-09 08:23:37
样品的基底是碳做的，这个含量很正常。
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麦麦爸爸爱小牛
2楼2010-06-08 22:26:06
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elionix

blackmail(金币+1): 2010-06-09 08:23:34
会用碳粉标正峰，这个含量很正常。
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3楼2010-06-09 07:36:28
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blackmail

木虫 (正式写手)
那我怎么去除碳的峰，我后面还有几个样品是用碳包覆Fe3O4，那不是和我自己样品中的碳没法区分了
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4楼2010-06-09 08:23:25
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