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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【请教】为什么AFM样品表面出现小坑
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ukandy

禁虫 (正式写手)
本帖内容被屏蔽
11楼2010-04-17 20:28:45
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miranda2581

新虫 (初入文坛)
有扫一张空白云母？云母片表面形貌怎么样
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12楼2010-04-17 20:41:34
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liujiahui

木虫 (著名写手)
好奇怪啊？为什么会被屏蔽呢？
引用回帖:
Originally posted by zhenjun87 at 2010-04-17 17:05:01:
不会是仪器的问题  没那么简单的

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13楼2010-04-19 05:14:48
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liujiahui

木虫 (著名写手)
增大了敲击力，果然就翻转过来了，可是，这样不就是说明，高度与敲击力有关吗？那我不就不能用这种方法测高度和颗粒大小了吗？
引用回帖:
Originally posted by hit1002 at 2010-04-16 08:32:29:
云母片质量差（有杂质），在剥离后会有小坑。云母片上观察纳米粒子，样品制备非常关键，表面纳米粒子太少，找不到，看到的都是artifacts. 另探针与粒子表面是吸引力时，会有此现象，适当加大敲击力。

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14楼2010-04-20 04:50:53
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