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doublewei

银虫 (小有名气)

[交流] 【求助】关于XPS标定费米能级零点

在测量XPS的时候,我看文献中有人用金属(Au或者Ni)等标定费米能级零点,还有人用C1s的结合能标定。这两种方法得到的结果一样吗?
还有就是我测了半导体的价带谱,使用的是C1s校正的峰位,那么得到结合能的零点是否能认为是我的样品的费米能级位置呢?
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drag

铜虫 (小有名气)

★ ★ ★
doublewei(金币+3,VIP+0):谢谢您!其实我的问题就是这个接触电势能否求出来。或者说原来两者未接触前的电势差能否求出来 11-6 09:24
样品跟你的“仪器”功函数肯定是不同的,所以它们的接触应该是会产生接触电势的,这个接触电势的存在使得样品和仪器fermi能级相同。至于您的问题,因为我并没有自己做过XPS的相关实验,我不明白
做梦中梦,悟身外身
6楼2009-11-05 22:43:09
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zjuer

至尊木虫 (著名写手)

★ ★ ★
小木虫:)(金币+3,VIP+0):3x 10-29 00:13
应该是一样的。如果用的含碳样品都是一样的话。
3楼2009-10-28 20:51:49
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doublewei

银虫 (小有名气)

谢谢以上各位的回答!
但是在这里我还是有点糊涂。一般导电样品和仪器接触很好,样品和仪器的费米能级能够持平。但是我的样品能隙在4.7eV左右,基本上就要属于绝缘体了,在这种情况下也两者(仪器和样品)的费米能级能够认为是相同的吗?并且如果我知道仪器的功函数是4eV,能否认为样品的费米能级相对于真空就是-4eV?
5楼2009-11-05 19:10:06
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中正平匀

新虫 (初入文坛)

★ ★ ★
doublewei(金币+3,VIP+0):谢谢! 11-10 16:21
Ni 费米面是用来“标定”XPS测量的零点,意义只在确定坐标原点。其他样品不管功函数如何,实验上测到的值就是他的结合能(在没有表面荷电情况下)。这种情况下,样品沾污c-c,c-H键C1s的值为285(也有用284.5),由于一般样品都有这种沾污,所以用它比较方便,而且和Ni费米标定一致,Ni费米也只对低能端比较可靠,为了保证整个测量范围中能端,中高,高能都可靠,还需要用到Au,Ag,Cu的谱线,这些特定谱线的标准能量由各大XPS厂商组织的几次大规模会测确定。
7楼2009-11-10 12:25:51
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