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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【求助】透射电镜可以测出平均粒径吗？
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木虫 (著名写手)
引用回帖:
Originally posted by girlsnake100 at 2009-5-19 11:18:
用电镜测出来的根本就不是原来形貌，用什么手段测量都没用的。
你想想你的制样方法，他是要滴在铜网上干燥后才观察的，都不知道发生了什么情况，测出来也不知道是不是你样品的原始形貌。
最好是做原位的测量，比 ...

按照这位的意思就是TEM都不用做了
那些发TEM图片来表征形貌的都是骗人的？
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11楼2009-05-19 11:57:14
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lucky2008

铁杆木虫 (正式写手)
可以用统计的方法，多照一些照片，然后统计。可以说明一些问题的
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Neverabandon,nevergiveup!铸造测控新技术
12楼2009-05-19 19:57:43
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lucky2008

铁杆木虫 (正式写手)
我课题主以前做过曾方面的，统计了很多
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Neverabandon,nevergiveup!铸造测控新技术
13楼2009-05-19 19:58:27
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qiuguizi

铁虫 (小有名气)
谢谢大家指教
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14楼2009-05-19 22:16:44
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hand1980

★ ★
dgf2008(金币+2,VIP+0):谢谢 5-22 20:42
对于粒径比较小的纳米级颗粒，粒度仪是不适用的，只能用TEM，但问题是代表性，要尽量照颗粒分散好而且多的区域，多拍一些照片算平均值，结果还是可以的，我们做过这样的工作，和XRD结果差距不大，前提是单晶纳米级颗粒，一些纳米材料国家标准中也有规定TEM粒径测量方法，好像要求一个照片中量不低于100个颗粒算平均值，如果材料分散性好就用软件直接计算，分散的不好就手量吧

[ Last edited by hand1980 on 2009-5-20 at 08:36 ]
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15楼2009-05-20 08:35:25
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liuwenxiu

金虫 (正式写手)
当然不行了，制样得到的都是分散较好的，粒径较小的，这个平均粒径没有任何价值！
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16楼2009-06-19 14:21:23
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