Originally posted by 洛阳学子 at 2009-5-6 21:30:
不是这样的，要有标样的，如Si，或者Al2O3
选择标样的某个衍射峰附近（你的样品在此角度附近也出现衍射峰），再重新做XRD，角度就是样品这个角度附近的范围，即所得谱图的角度范围在刚才的衍射峰附近，延长收集信 ...