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chnxp

铁虫 (小有名气)


memser(金币+1,VIP+0):3x 4-29 12:38
BET测量比表面积,可近似推算出粒径
11楼2009-04-28 22:59:05
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xjliuhit

木虫 (正式写手)


memser(金币+1,VIP+0):3x 4-29 12:38
用乙醇分散 然后用原子力显微镜观察
选我所爱,爱我所选!
12楼2009-04-29 09:27:57
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hand1980


gshsheng(金币+1,VIP+0): 4-29 21:52
不知道你的粒径多大,100nm以上扫描电镜看下就行,几十纳米透射看,乙醇分散一下,一般氧化硅的分散性都很好,用粒径统计软件可以算平均粒径,很简单
13楼2009-04-29 21:50:57
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凌志远

银虫 (小有名气)


gshsheng(金币+1,VIP+0): 5-3 11:52
先用醇溶液分散,然后用透射电镜成像,然后进行图像分析。注意:溶液浓度要控制好。
14楼2009-04-29 22:26:41
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gaosong2056

金虫 (小有名气)


gshsheng(金币+1,VIP+0): 5-3 11:52
做扫面电子显微镜,如果粉末的做的不好,可以用醇溶解,超声一下,沾了铜网再做,应该就可以了
15楼2009-04-30 21:43:37
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tiankong1985

金虫 (小有名气)


gshsheng(金币+1,VIP+0): 5-16 09:52
方法很多,但各有特色,扫描电镜和透射电镜最直观,但得到的结果不是统计性的结果,激光粒度仪,X射线小角散射的分析结果具统计性,但往往误差比较大
16楼2009-05-01 20:02:21
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winnyang3320

铁虫 (小有名气)


gshsheng(金币+1,VIP+0): 5-16 09:52
你的SiO2是非晶的么。。?
如果是非晶可以考虑用乙醇或正辛烷来分散。。。
17楼2009-05-02 22:00:37
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westyouday

铁杆木虫 (正式写手)


gshsheng(金币+1,VIP+0): 5-16 09:52
如果二次粒径是纳米可以分散后,用zeta电位仪测量。扫描电镜和透射电镜的结果,不具有统计性。激光粒度仪一般在0.2um以上,测不了纳米粉。
18楼2009-05-03 00:04:30
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oscaralick

铁杆木虫 (小有名气)

TEM就可以
19楼2009-05-15 21:07:38
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