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素食主义者

铜虫 (正式写手)


二次离子质谱,找一个标准掺杂样品作对比
11楼2009-10-01 00:06:41
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usst1

木虫 (正式写手)

用auger depth profile 或者x射线光电子能谱较准,sims不能测价电子的信息
12楼2009-10-02 02:18:41
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闫祯2787

新虫 (初入文坛)

内蒙古


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
你好,你做个xps光电子能谱分析,或者xrd也可以的,含量是可以算出来的
天道酬勤!
13楼2009-10-02 16:21:09
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金虫一号

铁杆木虫 (正式写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
XPS测试中Li的灵敏度因子很低,所以一般如果掺杂量小于10%的话峰都不是很明显,且本身XPS就是半定量分析,如果是微量掺杂的话可能就更不太准

个人觉得ICP可能更好一点
14楼2009-10-13 09:42:54
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xiongjian

铜虫 (小有名气)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
通过TEM的特征元素分析看半峰宽
15楼2009-11-13 09:37:35
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