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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 交流探讨 » 【求助】关于四探针法测方块电阻
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feixiang132

银虫 (小有名气)

[交流] 【求助】关于四探针法测方块电阻 已有4人参与

请问大家，测量薄膜的方块电阻时
对试样尺寸形状，以及薄膜厚度有什么特殊要求吗？

有没有下面2条：
1、探针距试样边缘距离不小于10倍探针间间距？
2、试样必须为正方形？

[ Last edited by feixiang132 on 2009-3-31 at 15:51 ]
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四探针测电阻

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1楼 2009-03-21 14:35:57
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lwp1017

木虫 (正式写手)
★ ★ ★
feixiang132(金币+3,VIP+0):thanks 3-31 19:51
我用过，没有考虑过你所提的问题..
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9楼2009-03-31 19:23:51
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enquan123

金虫 (著名写手)
★ ★ ★
feixiang132(金币+3,VIP+0):感谢！ 3-21 21:23
形状没用特殊要求，要求表面要很平整，以使四个探针都与样品表面接触良好！修正的意思是最后得到的是电阻率或电导率，便于比较把！
个人意见！
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No matter what I do,I always forget to forget you...
3楼2009-03-21 19:11:31
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gdalo

金虫 (小有名气)
★
feixiang132(金币+1,VIP+0):感谢！ 3-21 21:23
是不是要修正边缘效应的问题
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4楼2009-03-21 19:52:32
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feixiang132

银虫 (小有名气)
继续请教
懂得给点帮助，谢谢了！！
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5楼2009-03-22 16:01:50
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