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lathock

新虫 (初入文坛)

应助: 0 (幼儿园)
金币: 2
帖子: 3
在线: 4.2小时
虫号: 3291752
注册: 2014-06-25
专业: 功能陶瓷

[求助] PZT壓電陶瓷片測試位移(正反向測試)與電容衰退的相關問題已有1人参与

希望有高人解答，需要帮忙小弟也会尽力

目前做出PZT-Zn、PZT两种配方(略有不同)，性能部分介电常数约在5000/3000，D33:850/800，KP0.62
将其作成一般市售选针器尺寸(长条薄片)
介电常数高的配方没有特别问题，在测试介电常数低的片子时发生下列问题:
1. 测试前电容240nf，作动100H，衰退至190nf，是成分改变造成晶型影响还是有其他?
2.做悬臂梁位移测试，(正电)位移从原点->位移0.4mm->放电->回到0.2处之后上反向电，问题在于高介电常数的料有回到0.05mm处
两个料差异很大?不知道要怎解决，是配方问题还是机构上?

期待有高人指点，说明不清楚的我再补充

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