9楼: Originally posted by hbc1234 at 2016-12-22 19:08:32
如果基片导电，C-AFM可以测样品层从上到下的电学性质。如果是导电薄膜样品，也可以在膜上粘导电胶，测延薄膜方向的电学性质。如果基片不导电，而且样品为粉末或者是电阻比较大的膜，就不太好测了。...

11楼: Originally posted by nano at 2016-12-26 07:38:49
从上往下的导电情况与顺延薄膜方向的导电情况，两种情况都可以解释你的材料的导电性质吗？
因为这种材料做的是一种从上往下的电池器件，所以会有点疑问。
麻烦赐教( ?? ?? )
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