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扬帆A心海

木虫 (著名写手)

[求助] 测的xrd粉末在高角度时背景很大,为什么? 已有3人参与

图中黑线是所需的晶体粉末图,红线是另一个晶体在同一台仪器上测的图,红线的高角度峰背景不大,为什么黑线背景峰这么大呢?是不是晶体本身的问题。如果不是的话,需要怎么弄呢?谢谢!
    用的是硅片

测的xrd粉末在高角度时背景很大,为什么?
截图20161105171051.jpg


测的xrd粉末在高角度时背景很大,为什么?-1
截图20161105171536.jpg
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扬帆A心海

木虫 (著名写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 张在永 at 2016-11-05 19:56:25
不同的物质结晶度不一样

这么说是晶体本身的问题了吗
3楼2016-11-05 21:52:28
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张在永

木虫 (正式写手)

不同的物质结晶度不一样

发自小木虫IOS客户端
相信自己
2楼2016-11-05 19:56:25
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张在永

木虫 (正式写手)

相信自己
4楼2016-11-05 21:53:27
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HMYZ-HUST

铁虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
扬帆A心海: 金币+1, 有帮助, .。。。 2016-11-05 22:11:47
扬帆A心海: 金币+15, 有帮助 2016-11-07 17:05:22
扫描速度慢点,多预约两个时间段,估计1'/min;还有就是,你的晶体不要磨得太糙,粒径太细或者太粗的话,也得不到好的结果;谱图得到后,从diamond里面导入cif文件,做对比;再有就是,给金币!!!
5楼2016-11-05 22:04:25
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