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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 化学化工区 » 电化学 » 化学电源 » 测得XRD底部非常乱，这是啥原因？有解决办法嘛，还是要重测？
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chivasqizhi

金虫 (正式写手)
峰还算是明显啊，如果峰太多的话，很可能是物质不纯，如果曲线粗糙的话，要么就是仪器不好，要么就是扫描速度太快了

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11楼2016-09-23 20:45:21
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baifenzhi3

金虫 (小有名气)
如果只是定性分析的话，只要能分析出是什么就行，没必要重新测量。如果信号不足以测出是什么，需要重新测量的话，可以考虑以下几个方面。（1）增大X-ray 狭缝的宽度，越宽信号强度越高，但是会带来弱的解析度。（2） 增大样品的量，如果可以的话。如果已经是很多很多了，那就忽略这一点。（3）降低扫苏，会增加数据点的采集，会让你顶部更平滑，
你的半高宽还是比较小，所以你的样品结晶度还是很不错的。
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开心生活
12楼2016-09-23 20:52:06
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virologik
13楼2016-09-23 20:59:58
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xhxhmd

新虫 (正式写手)
这还乱？

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14楼2016-09-23 21:29:06
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相识是缘

铁杆木虫 (著名写手)

博士

【答案】应助回帖

计数只有100，确实太低了，扫慢点数据更漂亮也更可靠
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Hope
15楼2016-10-02 21:47:35
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renxiaoyao90

金虫 (正式写手)
基线很好了，要是想更好的话想办法增强锋强度，比如增大狭缝宽度和扫描时间

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认定的路，爬也要爬到尽头
16楼2016-10-02 22:31:19
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满神1990

铁杆木虫 (著名写手)
减慢扫速，用仪器厂家的基底，会减小噪音信号，但是去过还是这样，就说明事样品的事，不用修改，直接用。

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17楼2016-10-02 23:41:04
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