极易碎样品的SEM制样方法 - 微米和纳米 - 合成表征 - 第3页小木虫论坛-学术科研互动平台

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木虫 (小有名气)

引用回帖:

20楼: Originally posted by sycfh at 2016-09-14 17:22:44
通过SEM是想得到他的内部结构么？
其实建议楼主可以考虑用工业CT检测的方法啊，首先不需要要切片制样，其次还能得到三维空间结构；
关键一点，得看看您需要多大的分辨率？

CT没问题，确实可以做，但是需要大批量做样，显然不如SEM方便，再说本单位没有纳米CT，外出测试费用极高，领导不批

21楼2016-09-15 14:30:05

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用户注销 (正式写手)

工业CT三维检测-无损

本帖仅楼主可见

22楼2016-09-16 09:33:19

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新虫 (小有名气)

楼主，你这个问题最后解决了吗?我也遇到了类似的问题，万分感谢

发自小木虫Android客户端

23楼2019-12-05 17:28:17

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铁杆木虫 (著名写手)

光束一打就飞了吧！

发自小木虫Android客户端

24楼2019-12-05 19:11:01

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