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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 学术讨论 » XPS表面N含量分析时遇到了一些问题
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加冰小雪碧

禁虫 (著名写手)
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11楼2016-08-29 21:10:25
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加冰小雪碧

禁虫 (著名写手)
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12楼2016-08-29 21:41:18
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foxvictor1977

至尊木虫 (著名写手)
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定量要用窄谱扫描。全谱的数据定量并不可靠。

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13楼2016-08-30 00:32:25
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foxvictor1977

至尊木虫 (著名写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
XPS的定量是相对定量，也可称为半定量，比较的是测定区域内的各种元素的原子百分比。碳负载氮的量原本就不高，负载前躯体的对比量有点儿高，没有可比性，建议再做两种定量较低的实验做对比，再看对比的实验条件是否是合适的！

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14楼2016-08-30 00:43:01
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加冰小雪碧

禁虫 (著名写手)
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15楼2016-08-30 08:06:12
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CruiserD

至尊木虫 (著名写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
12楼: Originally posted by 加冰小雪碧 at 2016-08-29 21:41:18
您可不可以给我说一下XPS的窄谱定量？
我比较疑惑的是，难道能根据两个样品单独分析的N1s谱，对它们的含量进行含量的比较吗？...

原则上讲可以，我以前做个复合物，组分A里边含F（还有CHONS）、组分B里边含C（还有HO），审稿人说能不能估算下复合物里的A/B的值...我就用XPS里的F/C比来估算的，结果尚好~
但如14L所说，XPS定量不是很准，使用需谨慎。不同样品间比较，差值不大时更要小心...
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卢瑟·西门罗夫同志
16楼2016-08-30 08:09:49
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加冰小雪碧

禁虫 (著名写手)
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17楼2016-08-30 08:55:25
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加冰小雪碧

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18楼2016-08-30 20:52:43
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