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isord

木虫 (小有名气)

[交流] 单晶低温测试和常温封管测试,哪种方法对易风化晶体更好

最近测试过程中遇到一个问题,有个晶体非常容易风化,拿出来没几分钟就干掉粉化。故计划通过两种途径去进行测试,就是低温和封管,也和仪器公司工程师探讨过这个问题,但是似乎得不出什么好的结论,故上万能的小木虫,想听听大神们的意见。我个人是觉得,封管后的晶体,和射线之间隔了太多的东西,包括玻璃管,母液,粘晶体的胶,这样出来的数据不是太好~
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单晶XRD|粉末XRD|小角散射|DSCDTATG|热导率|QQ2046106354|http://www.xrdsem.top.com
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isord

木虫 (小有名气)

单晶XRD|粉末XRD|小角散射|DSCDTATG|热导率|QQ2046106354|http://www.xrdsem.top.com
5楼2016-09-19 08:59:06
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wy20120101

铁虫 (小有名气)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
并没有,我有的样品也是很容易风化,封管后测试得到的晶体数据就很好,如果你封管后数据也不是很好,只能说你的晶体质量还不够好。低温解决不了风化问题,还是封管好一些
2楼2016-08-09 13:16:02
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AllToo

木虫 (著名写手)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
数据不好总比没有数据好!
Modeling_X-Ray_data_in_all_type![alltooxray@126.com]
3楼2016-08-10 00:39:57
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xwnail2003

禁虫 (著名写手)

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4楼2016-08-10 09:15:57
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