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1.场发射扫描电镜(SEM)
型号:Quanta FEG 250、日立 S-4800(冷场)、JSM-7001F(热场)
主要规格及技术指标:
1.电子束电压范围:200 V-30 kV
2.电子束分辨率
高真空模式:-0.1 nm/30 kV(SE);-2.5 nm/30 kV(BSE);-3.0 nm/1kV(SE)
低真空模式:-1.4 nm/30 kV(SE);-2.5 nm/30 kV(BSE);-3.0 nm/3kV(SE)
材料要求:
金属、薄膜、半导体、陶瓷、复合、高分子等均可,具有一定导电性或喷碳/金处理,块体尺寸在1cm3以下,粉体约5mg左右。
主要功能及应用范围:
用于冶金、生物、建筑、机械等行业的材料形貌观察和成分分析。
主要附件
配备有X射线能谱分析仪,可以对B-U的元素进行定量和定性分析

2.高倍场发射扫描电镜
型号:蔡司热场 merlin compact
主要规格及技术指标:
1.电子束电压范围:200V-30kV
2.电子束分辨率
高真空模式:-0.1 nm/30 kV(SE);-2.5 nm/30 kV(BSE);-3.0 nm/1kV(SE)
低真空模式:-1.4 nm/30 kV(SE);-2.5 nm/30 kV(BSE);-3.0 nm/3kV(SE)
最大可放大到30万倍,导电性好的话可以达到40万倍
材料要求:
金属、薄膜、半导体、陶瓷、复合、高分子等均可,具有一定导电性或喷碳/金处理,块体尺寸在1cm3以下,粉体约5mg左右。
主要功能及应用范围:
用于冶金、生物、建筑、机械等行业的材料形貌观察和成分分析。
主要附件
配备有X射线能谱分析仪,可以对B-U的元素进行定量和定性分析
3.场发射透射电镜(TEM)
型号:Tecnai G2F20、Tecnai G2F30、JEM2100、JEOL2100
主要规格及技术指标:
1.加速电压:200 kV
2.线分辨率:0.14 nm,点分辨率:0.24 nm
3.信息分辨率:0.14nm,放大倍数:60-1000000
材料要求:
粉体样品(有无磁性均可),质量约5mg左右
主要功能及应用范围:
1.主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究;
2.成像:衍衬像(明、暗场像)、高分辨像 (HREM)、扫描透射像(明场像、环状暗场像、Z-衬度像);
3.微区成分: EDS能谱的点、线和面分析,电子选区衍射;
4.材料范围:无机材料(粉体);不适用于有机和生物材料;
5.表征范围:微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。

4. X 射线光电子能谱仪(XPS)
型号:美国 ThermoFisher K-Alpha、ESCALAB 250Xi
主要规格及技术指标:
1.X射线源-Al Kα微聚集单色器-可获取的光斑大小(5μm步长30-400μm);
2.离子枪-能量范围100-4000Ev;
    3.真空度一般是8*10-8,入射角90度;功率72W;分辨率0.4ev;
材料要求:
1.块状和薄膜样品,其长宽最好小于10 mm,高度小于3 mm;
2.粉末样品,不少于10mg;
3.无法测试强磁材料和含氟材料。
主要功能及应用范围:
1.对固体样品的表面元素成分(除氢、氦)进行定性或半定量及价态分析;
2.配合Ar离子束剥离技术,还可以实现对样品元素的深度分析;
3.XPS广泛应用于化学化工,材料,机械,电子材料等领域。
主要附件   
Ar离子溅射剥离

5.凝胶色谱仪(GPC)
型号 :Waters 2695 GPC
       美国pl220
主要规格及技术指标:
1.流速(ml/min):0.00-10;
2.流速精度:0.075%;
3.最高耐压(psi):6000;
4.温度范围:室温以上5℃-60℃;
5.控温精度:0.1℃
材料要求 :
液体,5ml左右;
流动相:四氢呋喃,测试样品的分子量需在20万以下;
DMF相,测试样品的分子量需在800-60万范围内;
水相,测试样品的分子量需在1000-80万范围内。
主要功能及应用范围:
1.多种水溶和脂溶性凝胶柱可选,可以为不同聚合物特征测定应用提供最佳的解决方案;
2.可以快速测定分子量及其分布,研究高聚物的支化度,共聚物的组成分布及高聚物中微量添加剂分析。

6.400MHz 固体核磁共振谱仪
型号:Bruker AVANCE III400
主要规格及技术指标:
    1.质子共振频率:400.13 MHz 主磁场:9.4 Tesla (超导) 磁场漂移<4.0HZ/小时 频率分辨率<0.005HZ
    2.液体 BBO 正相观察宽带探头:可检测范围:31P-15N,变温范围:-150℃~+180℃
    3.CP/MAS 宽带固体探头:可检测范围:31P-15N ,变温范围:-50℃~120℃,转速≥15K;
4.可测试 Li、Si、C、H 谱
材料要求:
    粉末:体积至少大于火柴杆粗细的长 2 cm 圆柱体体积。磁性样品测不了
主要功能及应用范围:
    测定有机物、无机物、高分子聚合物,天然药物,小分子量蛋白质等物质的基本化学结构、空间结构及构型分析;混合物的成分分析和鉴定;化学反应动力学的研究;材料微观结构和功能间的关系研究。

7.600MHz 固体核磁共振谱
仪器型号:Bruker AVANCE III600、JNM-ECZ600R
主要规格及技术指标:
    1.质子共振频率:400.13 MHz 主磁场:9.4 Tesla (超导) 磁场漂移<4.0HZ/小时 频率分辨率<0.005HZ;
    2.液体BBO正相观察宽带探头:可检测范围:31P-15N,变温范围:-150℃~+180℃;
    3.CP/MAS宽带固体探头:可检测范围:31P-15N,变温范围:-50℃~120℃,转速≥15K;
4.可测试 Li、Si、C、H 谱。
材料要求:
    粉末0.2g以上,如果测试Si谱等信号弱的谱,建议提供0.3g。
主要功能及应用范围:
    测定有机物、无机物、高分子聚合物,天然药物,小分子量蛋白质等物质的基本化学结构、空间结构及构型分析;混合物的成分分析和鉴定;化学反应动力学的研究;材料微观结构和功能间的关系研究。

8.500MHz 超导核磁共振波谱仪NMR
型号:BRUKER AVANCEIII HD 500MHz
主要规格及技术指标:
    1.质子共振频率 500 MHz,微成像分辨率≤20μm;
    2.扩散探头梯度场强度2500高斯;
    3.液体探头分辨率≤0.7 Hz。
材料要求:
    液体样品或者提供固体样品和所需溶剂。H 谱样品要求至少5mgC谱样品要求至少 20mg。
主要功能及应用范围:
    1.1H、13C、14F、19F、31P 等一维谱测试,H、C相关二维谱测试
    2.主要用于功能分子的 NMR 研究,以及 NMR 理论与方法的研究。

9.电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)
型号:Agilent 725
主要规格及技术指标:
能测定元素周期表中72种元素,且能进行多元素的同时测定,检出限可达 ppm,测定范围在0.005%~20%。
材料要求:
粉末不少于500mg,块体面积1 cm2左右即可,液体不少于10 ml
主要功能及应用范围:
1.元素的定性,定量,半定量分析。
2.应用于金属材料,非金属材料,生物,药品,食品,化工,钢铁等领域。
3.我测试中心还提供化学滴定、重量法等经典化学分析方法,前者测定范围 5%~90%后者5%~99.7%。

10.电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS
型号 :Agilent 7700
主要规格及技术指标:
能测定元素周期表中 72 种元素,且能进行多元素的同时测定,检出限可达 ppb,测定范围在0.0001%~0.1%。
材料要求 :
粉末不少于500mg,块体面积 1 cm2左右即可,液体不少于10ml
主要功能及应用范围:
1. ICP-MS 和 ICP-AES 的进样部分及等离子体是极其相似的。前者测量的是离子质谱,提供在3~250amu范围内每一个原子质量单位的信息,溶液的检出限大部分为ppt级。后者测量的是光学光谱(120nm~800nm)。
2. 该设备同样可以对样品进行元素的定性,定量,半定量分析。应用于金属材料,非金属材料,生物,药品,食品,化工,钢铁等领域。


11.BET 比表面和孔径分析仪
型号:麦克 ASAP2020、麦克 ASAP2460
主要规格及技术指标:
借助于气体吸附原理(典型为氮气)可进行等温吸附和脱附分析,用于确定比表面积、微孔体积和孔面积、中孔体积、总孔体积等。
    两种测量模式:(两者不能同时测试)1、 BET+孔径分析(大于 2nm);2、 单一微孔分析(0.5nm-2nm)——2 天以上,包括前处理,两次脱气,一次测试,一次自由空间测试
材料要求:
压片,20-60目,直径小于5mm,高度小于10mm;样品比表面积需大于20;样品预处理温度高于200℃;BET 块体尺寸,最长边尺寸必须小于1cm,建议尺寸 8*8*8mm 或者直径 8mm。
主要功能及应用范围:
可测多级微孔/介孔/大孔材料,普通粉体材料的比表面积和孔径。

12.XRD织构测试
型号:荷兰帕纳科XPert Pro MPD
主要规格及技术指标:
2θ角度范围:1°~140°;
满足广角和小角衍射(0.5°-10°);
铜靶,钴靶。
材料要求:
1.固体粉末样品不少于30mg,粒径约40μm(320目);
2.块体样品形状不能超过长4cm,宽4cm,高0.5cm,最好1cm 左右;
主要功能及应用范围:
可对样品进行结构分析,如物相定性和定量分析,点阵参数测定,晶粒尺寸及点阵畸变测定,残余应力测定,结晶度测定等。
13.高温红外测试
型号:Thermo Nicolet380
主要规格及技术指标:
红外配置光谱范围:4000-400cm-1;
波数精度:优于0.01cm-1;
分辨率:优于0.4cm-1;
温度范围:室温-500℃;
材料要求:
粉末:200mg以上,块体尺寸:最小直径13mm以上,厚度越薄越好,薄膜样品尽量透光;
主要功能及应用范围:
1.鉴别物质和分析物质结构;
2.物质的定性鉴别和定量分析;
3.研究分子间和分子内部的相互作用。
13.真实色共聚焦显微镜
型号:OPTELICS C130
主要规格及技术指标:
分辨率:0.18μm(采用兰色单色图像,150X 物镜(NA=0.95)时,可识别 0.18μm 的线幅和间隔)。
材料要求:
最大试样尺寸:高度90mm,质量5Kg。
主要功能及应用范围:
真实色激光共聚焦显微镜采用了共聚焦光学系统,可获得远超光学显微镜极限的分辨率和焦点深度;同时 RGB(红、绿、蓝)全色共聚焦的画面具有其他共聚焦显微镜所没有的特点,可以适用于具有多样的分光反射特性的试样的观察和测定;可以快速的观察高感度的画面、焦点深度很深的画面,同时可以高精度的进行线幅测定、表面形成测定等各种参数测定。

14.残余应力测试
型号:Stress3000
主要规格及技术指标:
1.Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可选;
2.可测试钢铁、钛合金、铝合金等材料;
材料要求:
1.点与点之间需大于3mm;
2.样品尺寸长宽大于3mm,不超过2m;
3.高度不超过3cm;
主要功能及应用范围:快速、有效测量齿轮、轴承、轧辊等零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸等处理过程中产生。

15.X射线单晶衍射仪(SC-XRD)
型号:BRUKER D8 QUEST
主要规格及技术指标:
1.探测器:PHOTON100,冷却:风冷;
2.信噪比:1.8(t<10s),1.7(t=120s),发生器功率:3~18kW;
3.光源可选择Mo或Cu,也可选择封闭靶或luS微焦斑光管;
4.角度偏差:0.005°,最小步进角度:0.0001°,重复性:0.0002。
样品要求:
单晶体,单晶解析要求:0.1-0.5mm线尺寸(肉眼看得见即可)。
主要功能及应用范围:
单晶测试,测晶胞、收数据、单晶解析等。

16. 单柱式电子万能试验机
型号:UTM2203
主要规格及技术指标:
1.试验速度能够在 0.1~500mm/min 范围内任意选择;
2.高速返回原点功能,缩短下次试验的准备时间,提高试验效率;
3.最大载荷5KN,(从1N,2N,5N,10N,20N,50N,100N,200N,500N,1kN,5kN中选择);
4.载荷精度:显示值的±0.5%;
5.温度:1000℃以下。
材料要求:
适合薄膜材料,长度在30mm以上。
主要功能及应用范围:
1.橡胶、胶片样品的拉伸试验;
2.纺织、食品、药品、化妆品、的物理性能试验;
3.电子部件的拉脱、剥离、焊接强度试验;
4.应力松弛试验及粘接强度试验。
17.离子色谱仪
型号 :ICS-1100
主要规格及技术指标:
1.操作温度范围 环境+5℃到 60℃;
2.流速范围0.00-5.00mL/min;
3.流量精度<0.1%;
4.测试水溶性F-,Cl-,Br-,NO3-,NO22-,SO42-。
材料要求:
水质样品,10ml以上;土壤,1g以上。
主要功能及应用范围:
适用于水样及土壤样品,满足实验分析、科学研究和特殊应用的所有要求

18.X射线单晶衍射仪(SC-XRD)
型号:BRUKER D8 QUEST
主要规格及技术指标:
1.探测器:PHOTON100,冷却:风冷;
2.信噪比:1.8(t<10s),1.7(t=120s),发生器功率:3~18kW;
3.光源可选择Mo或Cu,也可选择封闭靶或luS微焦斑光管;
4.角度偏差:0.005°,最小步进角度:0.0001°,重复性:0.0002。
样品要求:
单晶体,单晶解析要求:0.1-0.5mm线尺寸(肉眼看得见即可)。
主要功能及应用范围:
单晶测试,测晶胞、收数据、单晶解析等。
5.高温红外测试
型号:Thermo Nicolet380
主要规格及技术指标:
红外配置光谱范围:4000-400cm-1;
波数精度:优于0.01cm-1;
分辨率:优于0.4cm-1;
温度范围:室温-500℃;
材料要求:
粉末:200mg以上,块体尺寸:最小直径13mm以上,厚度越薄越好,薄膜样品尽量透光;
主要功能及应用范围:
1.鉴别物质和分析物质结构;
2.物质的定性鉴别和定量分析;
3.研究分子间和分子内部的相互作用。

19.吡啶红外
型号:Thermo Nicolet380
材料要求:
粉末样品,量能压片即可,150 mg左右;
主要功能及应用范围:
根据吡啶吸附后做红外的波长变化来测定酸的种类和含量。

20.离子色谱仪
型号 :ICS-1100
主要规格及技术指标:
1.操作温度范围 环境+5℃到 60℃;
2.流速范围0.00-5.00mL/min;
3.流量精度<0.1%;
4.测试水溶性F-,Cl-,Br-,NO3-,NO22-,SO42-。
材料要求:
水质样品,10ml以上;土壤,1g以上。
主要功能及应用范围:
适用于水样及土壤样品,满足实验分析、科学研究和特殊应用的所有要求

21. 热重-红外-气质联用测试
型号:STA6000/Frontier/Clarus680SQ8T
主要规格及技术指标:
温度范围:<900℃;
升降温速率:≤30K/min;
气氛:氩气、氮气;
真空度:10-2mbar;
红外光谱技术参数:信噪比:45000:1;
采样速度:80张谱/秒;
测量谱6000-20cm-1;
步进扫描-时间分辨率:5ns;
材料要求:
称量范围:5~10mg(小样品坩埚),5~30mg(大样品坩埚);
主要功能及应用范围:
热重-红外-气质联用仪,可将样品在温度变化过程中释放出的气体物质直接通入红外光谱仪及气质联用仪,进行即时检测,可在获得样品热解质量、热效应数据的同时获得其热解过程中释放出的气体成分分析结果。

22. 热重-红外测试
型号:Netzsch/Bruker TG209F3/Tensor 27
主要规格及技术指标:
温度范围<900℃;升降温速率:≤30K/min;气氛:氩气、氮气;真空度:10-2mbar;
红外光谱技术参数:信噪比:45000:1;
采样速度:80张谱/秒;测量谱6000-20cm-1;步进扫描-时间分辨率:5ns。
材料要求:
粉末及其块状样品5mg以上;
主要功能及应用范围:
热重-红外联用仪,可将样品在温度变化过程中释放出的气体物质直接通入红外光谱仪,进行即
时检测;
可在获得样品热解质量、热效应数据的同时获得其热解过程中释放出的气体成分分析结果。
23.振动样品磁强计(VSM)
型号:squid VSM 美国量子公司
主要规格及技术指标:1.磁场:0-7T
2.测量精度:10-8emu
3.测试温度:2~400K
材料要求:
    1.固体,粉末,薄膜,单晶,液体等,粉体量在20mg-200mg;块体尺寸,长、宽和高不超2mm;
    2.测试前需提前称重,方便数据处理。
    3.需备注测试磁场强度
主要功能及应用范围:
材料的磁性测量:磁滞回线,初始磁化曲线,磁矩-磁场等;软磁测量;对材料各向异性的磁性测量。

24.完全无液氦综合物性测量系统(PPMS)
仪器型号 :Quantum Design
主要规格及技术指标:
    温控范围:1.9K-400K连续控制,升降温速率最高可达20k/min
    磁场控制:最低磁场-9T,最高场9T,升降磁场最高速率220Oe/sec
    真空度小于 10e-5torr
    液氮消耗:无需灌装液氦或液氮,通过制冷机直接液化少量氦气,对样品进行控温
材料要求:粉体样品,块体样品均可,块体尺寸一般不超过10mm,质量在2mg-100mg
主要功能及应用范围:
    材料的磁性测量:磁滞回线,初始磁化曲线,磁矩-磁场等;软磁测量;对材料各向异性的磁性测量。

24.动态接触角测量仪
型号:DCAT11
主要规格及技术指标:
    接触角 0-180°;分辨率正负 0.01;表界面张力 1-1000Mn
样品要求:
    试样直径 5cm 左右,厚度不限,要求试样与测试液体是不润湿的。
主要功能及应用范围:
    测量表面/界面张力,动态接触角,密度.

25.矢量网络分析仪
仪器型号:安捷伦 Keysight E5071C ENA、安捷伦 PNA-N5244A
主要规格及技术指标:
    1.广泛的动态范围:在测试端口处具有> 123dB的动态范围(典型值)
    2.极快的测量速度:全双端口校准时为41ms,1601点
    3.低迹线噪声:70 kHz 中频带宽(IFBW)处为 0.004 dB rms
    4.集成的S参数测试装置
    5.端口选项:2端口和4端口
    6.平衡测量能力(4端口选件)
    7.同轴环:外径是7mm,内径是3mm,高是2mm
材料要求:
    粉体样品,质量不少于1g,厚度不可超过30μm
    弓形尺寸要求至少180*180mm,厚度5mm左右
主要功能及应用范围:
    测试材料在微波频段2-18 GHz的复介电常数和复磁导率,反射损耗等

26.四探针测试仪
仪器型号:H7756
主要规格及技术指标:
    电阻率测试范围:10-5 -105Ω·cm
    不同位置的5个点做平均值
材料要求:
    薄膜,提供准确膜厚,厚度均匀,块体上下平行,最好抛光处理; 厚度在 50μm 至 3mm之间,长宽尺寸:10mmx10mm;粉体提供 3-5g,压片测试
主要功能及应用范围:
    测试薄膜、涂层或块体材还在担心样品送外检测数据不好而不满意?那为何不来【e测试】试试呢?新客户还有首样半价优惠哦!
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1.场发射扫描电镜(SEM)
型号:Quanta FEG 250、日立 S-4800(冷场)、JSM-7001F(热场)
主要规格及技术指标:
1.电子束电压范围:200 V-30 kV
2.电子束分辨率
高真空模式:-0.1 nm/30 kV(SE);-2.5 nm/30 kV(BSE);-3.0 nm/1kV(SE)
低真空模式:-1.4 nm/30 kV(SE);-2.5 nm/30 kV(BSE);-3.0 nm/3kV(SE)
材料要求:
金属、薄膜、半导体、陶瓷、复合、高分子等均可,具有一定导电性或喷碳/金处理,块体尺寸在1cm3以下,粉体约5mg左右。
主要功能及应用范围:
用于冶金、生物、建筑、机械等行业的材料形貌观察和成分分析。
主要附件
配备有X射线能谱分析仪,可以对B-U的元素进行定量和定性分析

2.高倍场发射扫描电镜
型号:蔡司热场 merlin compact
主要规格及技术指标:
1.电子束电压范围:200V-30kV
2.电子束分辨率
高真空模式:-0.1 nm/30 kV(SE);-2.5 nm/30 kV(BSE);-3.0 nm/1kV(SE)
低真空模式:-1.4 nm/30 kV(SE);-2.5 nm/30 kV(BSE);-3.0 nm/3kV(SE)
最大可放大到30万倍,导电性好的话可以达到40万倍
材料要求:
金属、薄膜、半导体、陶瓷、复合、高分子等均可,具有一定导电性或喷碳/金处理,块体尺寸在1cm3以下,粉体约5mg左右。
主要功能及应用范围:
用于冶金、生物、建筑、机械等行业的材料形貌观察和成分分析。
主要附件
配备有X射线能谱分析仪,可以对B-U的元素进行定量和定性分析
3.场发射透射电镜(TEM)
型号:Tecnai G2F20、Tecnai G2F30、JEM2100、JEOL2100
主要规格及技术指标:
1.加速电压:200 kV
2.线分辨率:0.14 nm,点分辨率:0.24 nm
3.信息分辨率:0.14nm,放大倍数:60-1000000
材料要求:
粉体样品(有无磁性均可),质量约5mg左右
主要功能及应用范围:
1.主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究;
2.成像:衍衬像(明、暗场像)、高分辨像 (HREM)、扫描透射像(明场像、环状暗场像、Z-衬度像);
3.微区成分: EDS能谱的点、线和面分析,电子选区衍射;
4.材料范围:无机材料(粉体);不适用于有机和生物材料;
5.表征范围:微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。

4. X 射线光电子能谱仪(XPS)
型号:美国 ThermoFisher K-Alpha、ESCALAB 250Xi
主要规格及技术指标:
1.X射线源-Al Kα微聚集单色器-可获取的光斑大小(5μm步长30-400μm);
2.离子枪-能量范围100-4000Ev;
    3.真空度一般是8*10-8,入射角90度;功率72W;分辨率0.4ev;
材料要求:
1.块状和薄膜样品,其长宽最好小于10 mm,高度小于3 mm;
2.粉末样品,不少于10mg;
3.无法测试强磁材料和含氟材料。
主要功能及应用范围:
1.对固体样品的表面元素成分(除氢、氦)进行定性或半定量及价态分析;
2.配合Ar离子束剥离技术,还可以实现对样品元素的深度分析;
3.XPS广泛应用于化学化工,材料,机械,电子材料等领域。
主要附件   
Ar离子溅射剥离

5.凝胶色谱仪(GPC)
型号 :Waters 2695 GPC
       美国pl220
主要规格及技术指标:
1.流速(ml/min):0.00-10;
2.流速精度:0.075%;
3.最高耐压(psi):6000;
4.温度范围:室温以上5℃-60℃;
5.控温精度:0.1℃
材料要求 :
液体,5ml左右;
流动相:四氢呋喃,测试样品的分子量需在20万以下;
DMF相,测试样品的分子量需在800-60万范围内;
水相,测试样品的分子量需在1000-80万范围内。
主要功能及应用范围:
1.多种水溶和脂溶性凝胶柱可选,可以为不同聚合物特征测定应用提供最佳的解决方案;
2.可以快速测定分子量及其分布,研究高聚物的支化度,共聚物的组成分布及高聚物中微量添加剂分析。

6.400MHz 固体核磁共振谱仪
型号:Bruker AVANCE III400
主要规格及技术指标:
    1.质子共振频率:400.13 MHz 主磁场:9.4 Tesla (超导) 磁场漂移<4.0HZ/小时 频率分辨率<0.005HZ
    2.液体 BBO 正相观察宽带探头:可检测范围:31P-15N,变温范围:-150℃~+180℃
    3.CP/MAS 宽带固体探头:可检测范围:31P-15N ,变温范围:-50℃~120℃,转速≥15K;
4.可测试 Li、Si、C、H 谱
材料要求:
    粉末:体积至少大于火柴杆粗细的长 2 cm 圆柱体体积。磁性样品测不了
主要功能及应用范围:
    测定有机物、无机物、高分子聚合物,天然药物,小分子量蛋白质等物质的基本化学结构、空间结构及构型分析;混合物的成分分析和鉴定;化学反应动力学的研究;材料微观结构和功能间的关系研究。

7.600MHz 固体核磁共振谱
仪器型号:Bruker AVANCE III600、JNM-ECZ600R
主要规格及技术指标:
    1.质子共振频率:400.13 MHz 主磁场:9.4 Tesla (超导) 磁场漂移<4.0HZ/小时 频率分辨率<0.005HZ;
    2.液体BBO正相观察宽带探头:可检测范围:31P-15N,变温范围:-150℃~+180℃;
    3.CP/MAS宽带固体探头:可检测范围:31P-15N,变温范围:-50℃~120℃,转速≥15K;
4.可测试 Li、Si、C、H 谱。
材料要求:
    粉末0.2g以上,如果测试Si谱等信号弱的谱,建议提供0.3g。
主要功能及应用范围:
    测定有机物、无机物、高分子聚合物,天然药物,小分子量蛋白质等物质的基本化学结构、空间结构及构型分析;混合物的成分分析和鉴定;化学反应动力学的研究;材料微观结构和功能间的关系研究。

8.500MHz 超导核磁共振波谱仪NMR
型号:BRUKER AVANCEIII HD 500MHz
主要规格及技术指标:
    1.质子共振频率 500 MHz,微成像分辨率≤20μm;
    2.扩散探头梯度场强度2500高斯;
    3.液体探头分辨率≤0.7 Hz。
材料要求:
    液体样品或者提供固体样品和所需溶剂。H 谱样品要求至少5mgC谱样品要求至少 20mg。
主要功能及应用范围:
    1.1H、13C、14F、19F、31P 等一维谱测试,H、C相关二维谱测试
    2.主要用于功能分子的 NMR 研究,以及 NMR 理论与方法的研究。

9.电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)
型号:Agilent 725
主要规格及技术指标:
能测定元素周期表中72种元素,且能进行多元素的同时测定,检出限可达 ppm,测定范围在0.005%~20%。
材料要求:
粉末不少于500mg,块体面积1 cm2左右即可,液体不少于10 ml
主要功能及应用范围:
1.元素的定性,定量,半定量分析。
2.应用于金属材料,非金属材料,生物,药品,食品,化工,钢铁等领域。
3.我测试中心还提供化学滴定、重量法等经典化学分析方法,前者测定范围 5%~90%后者5%~99.7%。

10.电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS
型号 :Agilent 7700
主要规格及技术指标:
能测定元素周期表中 72 种元素,且能进行多元素的同时测定,检出限可达 ppb,测定范围在0.0001%~0.1%。
材料要求 :
粉末不少于500mg,块体面积 1 cm2左右即可,液体不少于10ml
主要功能及应用范围:
1. ICP-MS 和 ICP-AES 的进样部分及等离子体是极其相似的。前者测量的是离子质谱,提供在3~250amu范围内每一个原子质量单位的信息,溶液的检出限大部分为ppt级。后者测量的是光学光谱(120nm~800nm)。
2. 该设备同样可以对样品进行元素的定性,定量,半定量分析。应用于金属材料,非金属材料,生物,药品,食品,化工,钢铁等领域。


11.BET 比表面和孔径分析仪
型号:麦克 ASAP2020、麦克 ASAP2460
主要规格及技术指标:
借助于气体吸附原理(典型为氮气)可进行等温吸附和脱附分析,用于确定比表面积、微孔体积和孔面积、中孔体积、总孔体积等。
    两种测量模式:(两者不能同时测试)1、 BET+孔径分析(大于 2nm);2、 单一微孔分析(0.5nm-2nm)——2 天以上,包括前处理,两次脱气,一次测试,一次自由空间测试
材料要求:
压片,20-60目,直径小于5mm,高度小于10mm;样品比表面积需大于20;样品预处理温度高于200℃;BET 块体尺寸,最长边尺寸必须小于1cm,建议尺寸 8*8*8mm 或者直径 8mm。
主要功能及应用范围:
可测多级微孔/介孔/大孔材料,普通粉体材料的比表面积和孔径。

12.XRD织构测试
型号:荷兰帕纳科XPert Pro MPD
主要规格及技术指标:
2θ角度范围:1°~140°;
满足广角和小角衍射(0.5°-10°);
铜靶,钴靶。
材料要求:
1.固体粉末样品不少于30mg,粒径约40μm(320目);
2.块体样品形状不能超过长4cm,宽4cm,高0.5cm,最好1cm 左右;
主要功能及应用范围:
可对样品进行结构分析,如物相定性和定量分析,点阵参数测定,晶粒尺寸及点阵畸变测定,残余应力测定,结晶度测定等。
13.高温红外测试
型号:Thermo Nicolet380
主要规格及技术指标:
红外配置光谱范围:4000-400cm-1;
波数精度:优于0.01cm-1;
分辨率:优于0.4cm-1;
温度范围:室温-500℃;
材料要求:
粉末:200mg以上,块体尺寸:最小直径13mm以上,厚度越薄越好,薄膜样品尽量透光;
主要功能及应用范围:
1.鉴别物质和分析物质结构;
2.物质的定性鉴别和定量分析;
3.研究分子间和分子内部的相互作用。
13.真实色共聚焦显微镜
型号:OPTELICS C130
主要规格及技术指标:
分辨率:0.18μm(采用兰色单色图像,150X 物镜(NA=0.95)时,可识别 0.18μm 的线幅和间隔)。
材料要求:
最大试样尺寸:高度90mm,质量5Kg。
主要功能及应用范围:
真实色激光共聚焦显微镜采用了共聚焦光学系统,可获得远超光学显微镜极限的分辨率和焦点深度;同时 RGB(红、绿、蓝)全色共聚焦的画面具有其他共聚焦显微镜所没有的特点,可以适用于具有多样的分光反射特性的试样的观察和测定;可以快速的观察高感度的画面、焦点深度很深的画面,同时可以高精度的进行线幅测定、表面形成测定等各种参数测定。

14.残余应力测试
型号:Stress3000
主要规格及技术指标:
1.Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可选;
2.可测试钢铁、钛合金、铝合金等材料;
材料要求:
1.点与点之间需大于3mm;
2.样品尺寸长宽大于3mm,不超过2m;
3.高度不超过3cm;
主要功能及应用范围:快速、有效测量齿轮、轴承、轧辊等零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸等处理过程中产生。

15.X射线单晶衍射仪(SC-XRD)
型号:BRUKER D8 QUEST
主要规格及技术指标:
1.探测器:PHOTON100,冷却:风冷;
2.信噪比:1.8(t<10s),1.7(t=120s),发生器功率:3~18kW;
3.光源可选择Mo或Cu,也可选择封闭靶或luS微焦斑光管;
4.角度偏差:0.005°,最小步进角度:0.0001°,重复性:0.0002。
样品要求:
单晶体,单晶解析要求:0.1-0.5mm线尺寸(肉眼看得见即可)。
主要功能及应用范围:
单晶测试,测晶胞、收数据、单晶解析等。

16. 单柱式电子万能试验机
型号:UTM2203
主要规格及技术指标:
1.试验速度能够在 0.1~500mm/min 范围内任意选择;
2.高速返回原点功能,缩短下次试验的准备时间,提高试验效率;
3.最大载荷5KN,(从1N,2N,5N,10N,20N,50N,100N,200N,500N,1kN,5kN中选择);
4.载荷精度:显示值的±0.5%;
5.温度:1000℃以下。
材料要求:
适合薄膜材料,长度在30mm以上。
主要功能及应用范围:
1.橡胶、胶片样品的拉伸试验;
2.纺织、食品、药品、化妆品、的物理性能试验;
3.电子部件的拉脱、剥离、焊接强度试验;
4.应力松弛试验及粘接强度试验。
17.离子色谱仪
型号 :ICS-1100
主要规格及技术指标:
1.操作温度范围 环境+5℃到 60℃;
2.流速范围0.00-5.00mL/min;
3.流量精度<0.1%;
4.测试水溶性F-,Cl-,Br-,NO3-,NO22-,SO42-。
材料要求:
水质样品,10ml以上;土壤,1g以上。
主要功能及应用范围:
适用于水样及土壤样品,满足实验分析、科学研究和特殊应用的所有要求

18.X射线单晶衍射仪(SC-XRD)
型号:BRUKER D8 QUEST
主要规格及技术指标:
1.探测器:PHOTON100,冷却:风冷;
2.信噪比:1.8(t<10s),1.7(t=120s),发生器功率:3~18kW;
3.光源可选择Mo或Cu,也可选择封闭靶或luS微焦斑光管;
4.角度偏差:0.005°,最小步进角度:0.0001°,重复性:0.0002。
样品要求:
单晶体,单晶解析要求:0.1-0.5mm线尺寸(肉眼看得见即可)。
主要功能及应用范围:
单晶测试,测晶胞、收数据、单晶解析等。
5.高温红外测试
型号:Thermo Nicolet380
主要规格及技术指标:
红外配置光谱范围:4000-400cm-1;
波数精度:优于0.01cm-1;
分辨率:优于0.4cm-1;
温度范围:室温-500℃;
材料要求:
粉末:200mg以上,块体尺寸:最小直径13mm以上,厚度越薄越好,薄膜样品尽量透光;
主要功能及应用范围:
1.鉴别物质和分析物质结构;
2.物质的定性鉴别和定量分析;
3.研究分子间和分子内部的相互作用。

19.吡啶红外
型号:Thermo Nicolet380
材料要求:
粉末样品,量能压片即可,150 mg左右;
主要功能及应用范围:
根据吡啶吸附后做红外的波长变化来测定酸的种类和含量。

20.离子色谱仪
型号 :ICS-1100
主要规格及技术指标:
1.操作温度范围 环境+5℃到 60℃;
2.流速范围0.00-5.00mL/min;
3.流量精度<0.1%;
4.测试水溶性F-,Cl-,Br-,NO3-,NO22-,SO42-。
材料要求:
水质样品,10ml以上;土壤,1g以上。
主要功能及应用范围:
适用于水样及土壤样品,满足实验分析、科学研究和特殊应用的所有要求

21. 热重-红外-气质联用测试
型号:STA6000/Frontier/Clarus680SQ8T
主要规格及技术指标:
温度范围:<900℃;
升降温速率:≤30K/min;
气氛:氩气、氮气;
真空度:10-2mbar;
红外光谱技术参数:信噪比:45000:1;
采样速度:80张谱/秒;
测量谱6000-20cm-1;
步进扫描-时间分辨率:5ns;
材料要求:
称量范围:5~10mg(小样品坩埚),5~30mg(大样品坩埚);
主要功能及应用范围:
热重-红外-气质联用仪,可将样品在温度变化过程中释放出的气体物质直接通入红外光谱仪及气质联用仪,进行即时检测,可在获得样品热解质量、热效应数据的同时获得其热解过程中释放出的气体成分分析结果。

22. 热重-红外测试
型号:Netzsch/Bruker TG209F3/Tensor 27
主要规格及技术指标:
温度范围<900℃;升降温速率:≤30K/min;气氛:氩气、氮气;真空度:10-2mbar;
红外光谱技术参数:信噪比:45000:1;
采样速度:80张谱/秒;测量谱6000-20cm-1;步进扫描-时间分辨率:5ns。
材料要求:
粉末及其块状样品5mg以上;
主要功能及应用范围:
热重-红外联用仪,可将样品在温度变化过程中释放出的气体物质直接通入红外光谱仪,进行即
时检测;
可在获得样品热解质量、热效应数据的同时获得其热解过程中释放出的气体成分分析结果。
23.振动样品磁强计(VSM)
型号:squid VSM 美国量子公司
主要规格及技术指标:1.磁场:0-7T
2.测量精度:10-8emu
3.测试温度:2~400K
材料要求:
    1.固体,粉末,薄膜,单晶,液体等,粉体量在20mg-200mg;块体尺寸,长、宽和高不超2mm;
    2.测试前需提前称重,方便数据处理。
    3.需备注测试磁场强度
主要功能及应用范围:
材料的磁性测量:磁滞回线,初始磁化曲线,磁矩-磁场等;软磁测量;对材料各向异性的磁性测量。

24.完全无液氦综合物性测量系统(PPMS)
仪器型号 :Quantum Design
主要规格及技术指标:
    温控范围:1.9K-400K连续控制,升降温速率最高可达20k/min
    磁场控制:最低磁场-9T,最高场9T,升降磁场最高速率220Oe/sec
    真空度小于 10e-5torr
    液氮消耗:无需灌装液氦或液氮,通过制冷机直接液化少量氦气,对样品进行控温
材料要求:粉体样品,块体样品均可,块体尺寸一般不超过10mm,质量在2mg-100mg
主要功能及应用范围:
    材料的磁性测量:磁滞回线,初始磁化曲线,磁矩-磁场等;软磁测量;对材料各向异性的磁性测量。

24.动态接触角测量仪
型号:DCAT11
主要规格及技术指标:
    接触角 0-180°;分辨率正负 0.01;表界面张力 1-1000Mn
样品要求:
    试样直径 5cm 左右,厚度不限,要求试样与测试液体是不润湿的。
主要功能及应用范围:
    测量表面/界面张力,动态接触角,密度.

25.矢量网络分析仪
仪器型号:安捷伦 Keysight E5071C ENA、安捷伦 PNA-N5244A
主要规格及技术指标:
    1.广泛的动态范围:在测试端口处具有> 123dB的动态范围(典型值)
    2.极快的测量速度:全双端口校准时为41ms,1601点
    3.低迹线噪声:70 kHz 中频带宽(IFBW)处为 0.004 dB rms
    4.集成的S参数测试装置
    5.端口选项:2端口和4端口
    6.平衡测量能力(4端口选件)
    7.同轴环:外径是7mm,内径是3mm,高是2mm
材料要求:
    粉体样品,质量不少于1g,厚度不可超过30μm
    弓形尺寸要求至少180*180mm,厚度5mm左右
主要功能及应用范围:
    测试材料在微波频段2-18 GHz的复介电常数和复磁导率,反射损耗等

26.四探针测试仪
仪器型号:H7756
主要规格及技术指标:
    电阻率测试范围:10-5 -105Ω·cm
    不同位置的5个点做平均值
材料要求:
    薄膜,提供准确膜厚,厚度均匀,块体上下平行,最好抛光处理; 厚度在 50μm 至 3mm之间,长宽尺寸:10mmx10mm;粉体提供 3-5g,压片测试
主要功能及应用范围:
    测试薄膜、涂层或块体材料的电阻率和电导率

27.粉末电阻率测试仪
仪器型号:ST2722-SD
主要规格及技术指标:
    ST2722-SD型粉末电阻率测试仪是四端子法电阻率测试仪与自动化粉末压片机相组合,测试粉末“电阻率-压强”特性曲线的集成化、智能化测量仪器。
    四端子法符合 GB/T 24521-2009 和 YS/T 587.6-2006 有关国标和行业标准。
15*10 -6到200*103Ω·cm
材料要求:粉体提供3-5g,压片测试
主要功能及应用范围:




料的电阻率和电导率

27.粉末电阻率测试仪
仪器型号:ST2722-SD
主要规格及技术指标:
    ST2722-SD型粉末电阻率测试仪是四端子法电阻率测试仪与自动化粉末压片机相组合,测试粉末“电阻率-压强”特性曲线的集成化、智能化测量仪器。
    四端子法符合 GB/T 24521-2009 和 YS/T 587.6-2006 有关国标和行业标准。
15*10 -6到200*103Ω·cm
材料要求:粉体提供3-5g,压片测试
主要功能及应用范围:

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