MS计算中带隙和有效质量计算的问题
实验上制备的薄膜现在想要获得其有效质量，通过MS计算后发现带隙偏小。之前看到教程上说是通过取导带底和价带顶的数据，然后得出二阶导数求有效质量。现在计算大带隙偏小，是否可以用这种方法呢？是否对求解有影响呢？
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没影响 可以用你的结果算有效质量 你就算用HSE修饰了能带 能带的形状也不会变多少～
，
参考半导体物理 origin作图求二阶倒数