求助：晶体结构cif文件中
问题1：_cell_measurement_reflns_used      3917
            _cell_measurement_theta_min       ?
            _cell_measurement_theta_max       ?
这两个问号，知道应该去.ls文件中去找，但是发现找不到，而且.LS文件中最下面有这样一个问题（Too few reflections for final cell refinement，INTCMD:1362 Global refinement error: Too few reflections for final cell refinement at line 1 in ocye0_.slm）请问高手知道什么原因吗？数据还能用吗？
问题2：
_exptl_absorpt_correction_T_min   ?
_exptl_absorpt_correction_T_max   ?
原来记得这两个？，通过加size，精修就会出现，但现在精修后只给出
_shelx_estimated_absorpt_T_max     0.924
_shelx_estimated_absorpt_T_min     0.901
请问是一回事吗？

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