最近做了几个固体粉末紫外吸收数据,想计算带隙,结果作图出来发现切线与横坐标交点在0-1甚至在负值。 不知道是我材料不能这么计算带隙还是我数据处理有问题。 求助虫友帮忙答疑,不胜感激! 1.jpg 返回小木虫查看更多
光谱图看一下,估计你弄错了
感觉数据怎么有点不对劲
它这个图可能是漫反射谱。
你得看你的样品是直接带隙还是间接带隙,不同的跃迁类型计算带隙时的纵坐标都是不一样的 αhν=B(hν-Eg)m 其中α为摩尔吸收系数,h为普朗克常数,ν为入射光子频率,B为比例常数,Eg为半导体材料的光学带隙,m的值与半导体材料以及跃迁类型相关: (1) 当m=1/2时,对应直接带隙半导体允许的偶极跃迁; (2) 当m=3/2时,对应直接带隙半导体禁戒的偶极跃迁; (3) 当m=2时,对应间接带隙半导体允许的跃迁; (4) 当m=3时,对应间接带隙半导体禁戒的跃迁。 也就是你纵坐标的不见得是二分之一次方,需要根据样品实际情况定那个参数值。
光谱图看一下,估计你弄错了
这是测得的粉末样品紫外吸收光谱
2.jpg
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感觉数据怎么有点不对劲
它这个图可能是漫反射谱。
你得看你的样品是直接带隙还是间接带隙,不同的跃迁类型计算带隙时的纵坐标都是不一样的
αhν=B(hν-Eg)m
其中α为摩尔吸收系数,h为普朗克常数,ν为入射光子频率,B为比例常数,Eg为半导体材料的光学带隙,m的值与半导体材料以及跃迁类型相关:
(1) 当m=1/2时,对应直接带隙半导体允许的偶极跃迁;
(2) 当m=3/2时,对应直接带隙半导体禁戒的偶极跃迁;
(3) 当m=2时,对应间接带隙半导体允许的跃迁;
(4) 当m=3时,对应间接带隙半导体禁戒的跃迁。
也就是你纵坐标的不见得是二分之一次方,需要根据样品实际情况定那个参数值。
是的