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用半导体分析仪测试出蝴蝶形状的c-v曲线,电滞回线如下,能否证明此样品薄膜有铁电性
用半导体分析仪测试出蝴蝶形状的c-v曲线,电滞回线如下,能否证明此样品薄膜有铁电性
作者
落叶的四年
来源:
小木虫
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用半导体分析仪测试出蝴蝶形状的c-v曲线,电滞回线如下,能否证明此样品薄膜有铁电性
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落叶的四年
引用回帖:
2楼
:
Originally posted by
ll20100996
at 2017-11-12 21:36:59
不是太规则啊,我之前做过理论模拟,用朗道自由能理论
不太规则是指电滞回线吗?就是电滞回线不好卡 所以才会想会不会在加一个CV来证明样品有铁电性
,
落叶的四年
自顶一下惹。
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