XRD数据分析。晶型和无定型。
大家好，问一个问题。
要是我在晶型材料比如二氧化钛上覆盖了一层无定型材料。
用平行光测试XRD，是不是就很难测出二氧化钛的峰。或者由于无定型覆盖层，二氧化钛特征峰会变弱？
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不会的，X射线的穿透性很强的，并不会因为你覆盖上一层而印象原本的特征峰强弱
，
用平行光做掠射，入射角选的合适的话，可以规避基底的衍射
按说不会出现你说的这种情况，会不会是你的涂敷层厚了？这也会影响TiO2的峰强度