有了解XPS的测试过程吗，样品制备过程中会引入F和C两种元素吗 返回小木虫查看更多
C和F应该不会引入的，据我有限的经验，测试的过程中的XPS会通过碳谱来进行校准 所以你的谱里面肯定是有C的。。。
这个C很有可能是来自钴酸锂表面的Li2CO3，F很有可能来自马弗炉和去离子水。
楼上的说得不完全对，XPS中碳峰是怎么都会存在的，来源是样品吸附的小分子碳氢化合物，这也就是为什么可以用C=C峰做能量校准的依据。 另外，Li2CO3中的是C-O键，和C=C的结合能还是有差距的
XPS测试的是表面的信息，而表面直接与外界接触会吸附空气中的C、O等。F元素在超高真空下容易挥发，首先你要确认是不是其他人的样品中有F挥发出来吸附到你的样品表面，如果不是测试过程中引入的那就可能是实验过程中引入，比如同一实验室有人使用含F物或者一起共用烘箱都会导致
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C和F应该不会引入的，据我有限的经验，测试的过程中的XPS会通过碳谱来进行校准 所以你的谱里面肯定是有C的。。。
这个C很有可能是来自钴酸锂表面的Li2CO3，F很有可能来自马弗炉和去离子水。
楼上的说得不完全对，XPS中碳峰是怎么都会存在的，来源是样品吸附的小分子碳氢化合物，这也就是为什么可以用C=C峰做能量校准的依据。
另外，Li2CO3中的是C-O键，和C=C的结合能还是有差距的
我测试的结果是C和F的原子比为34%和3%，测了两次结果一样，为什么C的含量这么高，求帮助
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这个就不好说了
拉曼，碳硫仪，上一边，看看是啥碳吧
XPS测试的是表面的信息，而表面直接与外界接触会吸附空气中的C、O等。F元素在超高真空下容易挥发，首先你要确认是不是其他人的样品中有F挥发出来吸附到你的样品表面，如果不是测试过程中引入的那就可能是实验过程中引入，比如同一实验室有人使用含F物或者一起共用烘箱都会导致