这个要跟你的目的有关。如果是看晶界等等，那最好还是直接块体减薄，这样保留原始晶界状态，有利于观察。如果只是看烧结后晶粒，倒是可以打碎了磨成粉，但是TEM一般对于纳米粉的观测效果比较好，微米粉只能看轮廓，电子束很难穿透微米粉体，无法解析内部结构。要是想磨到纳米粉级别，说实话，如果有高能球磨机的话还可以，没有的话可能也是比较困难的，

若果只看轮廓不如看SEM，若果要看内部，TEM估计不行。因为电子束只能穿透几十个纳米的深度，而一般球磨颗粒的粒径最小也有几百个纳米到几个微米。

关键是看你要得到什么，如果是看的话，还不如直接把粉体烧到烧结温度，然后在磨细，直接看呢。

可以用常温切片，把样品切到100纳米以下，然后可以上透射直接观察！