求教各位大牛,我在Si基板上沉积了PZT铁电薄膜,现在审稿人要求我报到处PZT铁电薄膜的平均晶粒尺寸,我该使用什么手段检测? 返回小木虫查看更多
SEM、AFM测表面形貌都行 ,
场发射,SEM,AFM
SEM或者AFM,简单,快速。
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,
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