XPS测试结果讨论
大家好，我是重庆大学的学生，我现在在做Mo基化合物的her。我在测XPS的发现，Mo的峰强度比较低，只有500左右，同期C 1s的峰强度在1200左右。不仅如此，而且我还发现，另一个样品的Mo的峰强度达到了1000左右，所以我想问问为什么会出现这种现象。这两个样品的制备方法是一样的，只有温度不同。我的样品是做在泡沫镍上的，测试是我师兄给我做的，XPS测试的时候应该没有问题。所以在这里我想问问，为什么会出现这种现象？用XPS确定表面元素含量准吗？XPS测出来的元素含量与我从XRD中得到的不一样。
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XPS是表面灵敏的检查方法，探测深度3个纳米左右。XRD探测的体相信息。XPS很难定量分析，一般做半定量或定性分析。你的两个样品在表面形貌或元素深度分别上肯定存在差异，XPS测到不同信号强度很正常。
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第二个样品C1s强度多少？
两个样品的C 1s强度都只有600左右，我们是在泡沫镍上做的！做XPS的时候，测量有磁性的样品除了要把磁透镜关掉以外，还有其他要关的吗？
有C峰其实很好解释，你问问做测试的师兄就知道啦 好像是因为测试时有一层碳，另外，XPS测试金属主要是表面2-4个纳米的深度，除H、He外定量基本可以定准；他和XRD是由原理上的区别的
两者测试深度不一样 xps测试表面 几个到几十个纳米
xrd 测试几微米到几十个微米
所以测出的结果不一致 很正常
正常才奇怪