薄膜样品测试过程中,是先测试性能还是先表征结构、形貌等
如题,本人近段时间已制备好薄膜样品,在测试过程中有疑问,特来求助于各位虫友!
是先进行薄膜样品性能的测试还是先进行结构形貌的表征呢?
如果先进行结构形貌表征的话,各种激光、X射线对薄膜表面应该会有影响;如果先测性能的话,在此过程中也许会损害样品,到时候回过头来测结构形貌的话会不会误差很大?
(PS:性能测试还要拿到外地去测)
万能的虫友,请给出你的意见和见解~~拜谢! 返回小木虫查看更多
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同一批样品,可以截取成两部分,两项同时进行
把同条件样品分成很多小块 不同的测试手段用不同的样品
可以先测对结构影响不大的等性能参数,如电阻率等;实在不行的话应该将试样分为两部分,一部分测性能,一部分看形貌。
如果材料少一般先结构形貌表征
性能测试还要拿到外地去测。一般人家不寄回的。
如果材料不少就分成几份。取平均值的,