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想问下一个xrd半峰宽问题

作者 ttwoshipzh
来源: 小木虫 600 12 举报帖子
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我的纳米片在电镜下显示很薄看起来最多10几纳米,但是xrd慢扫下半峰宽很小,结晶很好,算出来通过谢乐公式大概能有50多纳米,请问这是怎么回事。谢谢大家

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  • 精华评论
  • kangye_1989

    D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度
    你计算不同晶面的半高宽得到的厚度是不同的

  • gxytju2008

    厚度可以考虑测个AFM,透射看厚度不是太擅长还是,另外XRD也是个平均效应,除了楼上说的因素你也可以看看是不是透射制样时候就有一些选择性或一类的,可以看个扫描,看看宏观结构会不会有大的颗粒,只不过透射时候很难注意到而已

  • gxytju2008

    引用回帖:
    5楼: Originally posted by ttwoshipzh at 2017-01-10 12:38:26
    你好,是扫描看的厚度,您说的afm是怎么回事,不是说制样要求特别薄嘛。
    ...

    扫描看厚度。。10几nm那就更不靠谱了啊。。极限分辨率都接近了,而且你也不能保证它是单层完全垂直的,AFM可以低浓度制样扫一下试试吧,我也不知道具体效果对你样品咋样,10nm左右应该是很适合的,可以试试

  • kangye_1989

    引用回帖:
    4楼: Originally posted by ttwoshipzh at 2017-01-10 12:37:51
    你好,但是普遍都特别小,没有一个宽的峰。我用透射和扫描都看过厚度都比较小
    ...

    这个东西一般不会用来测薄膜厚度,要测薄膜厚度应该是用小角衍射还是什么的就不清楚了

  • ttwoshipzh

    引用回帖:
    7楼: Originally posted by kangye_1989 at 2017-01-10 16:44:55
    这个东西一般不会用来测薄膜厚度,要测薄膜厚度应该是用小角衍射还是什么的就不清楚了...

    你是说xrd嘛 但是我看文献上说 通过半峰宽 算出晶面厚度 得到超薄纳米片。。。

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