X射线可以测试织构，是以极图的形式表示的。而XRD图谱的最高峰的晶面指数可以认为择优分布。

X射线测织构的原理是利用X射线扫描多晶材料衍射强度分布，统计出极密度分布；其过程为：
首先，扫描得出谱图，得出实际的2theta角位置；
然后，根据2theta角设定该材料的扫描旋转角；
然后，扫描结束后得到一套极密度分布数据，可用极图表达；
然后，根据得到的极图数据，计算得出取向分布函数ODF，有的系统也可以算出反极图及织构组分含量；
以上都是实验员操作的过程，用户一般不需要了解其过程，更多工作是读懂极图、ODF、反极图等信息，也就是标定织构或取向。建议楼主参阅织构相关书籍资料。

另，2楼的说法不妥。XRD谱图的最高峰与织构择尤没有直接联系，无织构粉末样品也有三强峰的，当然织构会影响谱图中峰的高低，甚至会使得有些2theta角位置的峰消失或增高。
还有，择尤不等于择优，织构没有优劣之分。“而视之尤。——《左传·襄公二十六年》。服注: 甚也。”；尤, 异也。——《广雅》

[ Last edited by comma on 2009-9-10 at 00:02 ]，

什么是择优取向？什么是织构？
在使用这些概念的时候，需要你认识到，除了晶体本身的坐标系外，样品本身的坐标系也得考虑进去，因为织构本身就是晶粒某一取向在样品坐标系的某一方向的集中分布。
XRD也能简单确定择优取向的，除了因为多重性因子高的三强峰外，如果出现了其它衍射强度很高的衍射峰，大多那个峰就是因为择优取向引起。

学习了，谢谢