基本资料

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SCI期刊名：	MICROELECTRONICS RELIABILITY MICROELECTRON RELIAB	我要投此期刊
出版周期：	Monthly
出版ISSN：	0026-2714
通讯方式：	PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
期刊主页网址：	http://www.journals.elsevier.com/microelectronics-reliability/
在线投稿网址：	http://ees.elsevier.com/mr/
其他相关链接：	Science Citation Index Science Citation Index Expanded Current Contents - Engineering, Computing & Technology

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偏重的研究方向：	工程与材料(3) 机械工程(2) 敏感电子学与传感器(1) 微/纳机械系统(1) 电子学与信息系统(1) 无机非金属类光电信息与功能材料(1) 无机非金属材料(1) 信息科学(1) 机械结构强度学(1)
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