基本资料

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SCI期刊名：	JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS J ELECTRON TEST	我要投此期刊
出版周期：	Bimonthly
出版ISSN：	0923-8174
通讯方式：	SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ
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其他相关链接：	Science Citation Index Expanded Current Contents - Engineering, Computing & Technology

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偏重的研究方向：	集成电路设计与测试(1) 半导体科学与信息器件(1) 信息科学(1)
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